Urządzenia do przygotowania próbek

W naszej ofercie znajdziecie Państwo urządzenia do przygotowania próbek:


Szlifierko-polerki metalograficzne
SMPM-250AV

Jesteśmy producentami szlifierko-polerek do przygotowywania zgładów wykorzystywanych w metalografii – jednostanowiskowej SMPM-250AV1 oraz dwustanowiskowej SMPM-250AV. W zależności o wersji wykonania talerzy szlifierskich, można stosować papiery zwykłe, samoprzylepne (na specjalnych podkładkach magnetycznych) oraz magnetyczne sukna polerskie.

Szlifierko-polerka metalograficzna jednostanowiskowa

TypSM-PM 250AV1
Przeznaczenieszlifowanie/polerowanie
„na mokro” – metalografia
Stanowiska pracy1
Talerzeø 250 mm
Ścierniwopapier / sukno 
Prędkość obrotowa50 do 600 obr/min
Regulacja obrotówpłynna
Zasilanie230V/50Hz
Mocok. 800 W
Wagaok. 45 kg
Wymiary (szer/gł/wys)770/500/350 mm
Doprowadzenie wody3/4″
Odpływ wody3/4″

Szlifierko-polerka metalograficzna dwustanowiskowa

TypSM-PM 250AV
Przeznaczenieszlifowanie/polerowanie
„na mokro” – metalografia
Stanowiska pracy2
Talerzeø 250 mm
Ścierniwopapier / sukno 
Prędkość obrotowa50 do 600 obr/min
Regulacja obrotówpłynna
Zasilanie230V/50Hz
Mocok. 800 W
Wagaok. 60 kg
Wymiary (szer/gł/wys)1170/500/350 mm
Doprowadzenie wody3/4″
Odpływ wody3/4″

Szlifierki do próbek spektralnych HK-200 i HK-350

Szlifierka HK-200
Szlifierka HK-350

Oferujemy szlifierki do próbek spektralnych używanych później do analizy za pomocą spektrometrów iskrowych. Szlifowanie odbywa się na sucho na papierach ściernych.

Szlifierka spektralna HK-200 to urządzenie stołowe. Posiada talerz o średnicy 200mm. Możliwość podłączenia zewnętrznego odpylania.

Folder HK-200

Szlifierka spektralna HK-350 posiada osobną szafkę, w której mieści się układ odpylający. Stosuje się papiery ścierne o średnicy 350mm.

Folder HK-350

Uchwyty do szlifowania próbek

W sytuacji, gdy wysokość próbki wynosi np. 30-40mm nie ma problemu z jej ręcznym szlifowaniem. Jednak, gdy ma ona 4-5mm wysokości i ze względów bezpieczeństwa szlifowanie takiej próbki trzymając ją w ręce jest niemożliwe, wtedy z pomocą przychodzą specjalne uchwyty do ręcznego szlifowania próbek:

Uchwyty magnetyczne umożliwiają szlifowanie próbek metalicznych (np. stalowych) o własnościach magnetycznych. Można dobrać uchwyt do próbek okrągłych lub kwadratowych.

Do szlifowania próbek niemagnetycznych (np. aluminium, miedzi itp.) stosuje się uchwyty mechaniczne, gdzie próbka mocowana jest za pomocą specjalnego „zęba” dociskanego śrubą.

Uchwyty do próbek magnetycznych
Uchwyty do próbek niemagnetycznych

Szlifierka wahadłowa do żeliwa HK-150.1

Szlifierka wahadłowa HK-150.1

Do próbek twardych materiałów np. żeliwa stosuje się szlifierki z kamieniem ściernym tzw. ściernicą donicową.

Posuw pionowy ściernicy odbywa się za pomocą koła, widocznego na zdjęciu obok, z podziałką umożliwiającą posuw z dokładnością 0,1mm.

Miejsce pracy oświetla lampa halogenowa. Szlifierka może być wyposażona w stolik magnetyczny do mocowania próbki lub w jarzma mechaniczne.

Folder HK-150.1

Stolik magnetyczny Jarzma mechaniczne

Półautomatyczna frezarka do próbek metali nieżelaznych
HK-81F

Frezarka HK-81F

Próbki metali nieżelaznych frezuje się za pomocą specjalnej frezarki np. HK-81F. Próbka mocowana jest w trójszczękowym jarzmie, a następnie automatycznie przesuwana pod obracającą się głowicą frezującą. Położenie głowicy w pionie reguluje się za pomocą śruby mikrometrycznej u góry urządzenia. Śruba wyskalowana jest co 0,05mm, co umożliwia bardzo precyzyjną regulację skoku głowicy i kontrolę nad grubością zdejmowanej warstwy materiału. Regulowana jest prędkość posuwu próbki oraz prędkość skrawania. Całość zapewnia powtarzalną, doskonale przygotowaną powierzchnię analityczną.

Folder HK-81F


Prasa hydrauliczna PR-25Rv2

PR-25Rv2
Prasa PR-25Rv2

Przygotowanie pastylek do analizy XRF wymaga użycia prasy hydraulicznej o odpowiednim nacisku oraz matrycy o wymiarach dobranych do wymiarów kasety spektrometru XRF. Trwałe pastylki mogą być przygotowywane z luźnego proszku, przy użyciu miseczki aluminiowej lub lepiszcza.

Oferujemy hydrauliczne prasy ręczne własnej produkcji:

PR-25Rv2 – o nacisku 25 ton

oraz urządzenia elektryczne, które są wskazane przy dużej liczbie próbek.
Do pras posiadamy pełne wyposażenie dodatkowe jak np. matryce, miseczki aluminiowe, lepiszcza, folie itp.
Typowe wymiary pastylek do analizy XRF to 32 i 40 mm. Na zamówienie wykonujemy matryce o wymiarach od 6mm do 55mm.

Matryce do prasowania próbek