Urządzenia do przygotowania próbek
W naszej ofercie znajdziecie Państwo urządzenia do przygotowania próbek:
- szlifierko-polerki do próbek metalograficznych
- szlifierki do próbek spektralnych
- frezarki do próbek metali nieżelaznych
- prasy
- stapiarki gazowe i elektryczne
- młynki
Szlifierko-polerki metalograficzne
SMPM-250AV
Jesteśmy producentami szlifierko-polerek do przygotowywania zgładów wykorzystywanych w metalografii – jednostanowiskowej SMPM-250AV1 oraz dwustanowiskowej SMPM-250AV. W zależności o wersji wykonania talerzy szlifierskich, można stosować papiery zwykłe, samoprzylepne (na specjalnych podkładkach magnetycznych) oraz magnetyczne sukna polerskie.
Szlifierko-polerka metalograficzna jednostanowiskowa
| Typ | SM-PM 250AV1 |
| Przeznaczenie | szlifowanie/polerowanie „na mokro” – metalografia |
| Stanowiska pracy | 1 |
| Talerze | ø 250 mm |
| Ścierniwo | papier / sukno |
| Prędkość obrotowa | 50 do 600 obr/min |
| Regulacja obrotów | płynna |
| Zasilanie | 230V/50Hz |
| Moc | ok. 800 W |
| Waga | ok. 45 kg |
| Wymiary (szer/gł/wys) | 770/500/350 mm |
| Doprowadzenie wody | 3/4″ |
| Odpływ wody | 3/4″ |
Szlifierko-polerka metalograficzna dwustanowiskowa
| Typ | SM-PM 250AV |
| Przeznaczenie | szlifowanie/polerowanie „na mokro” – metalografia |
| Stanowiska pracy | 2 |
| Talerze | ø 250 mm |
| Ścierniwo | papier / sukno |
| Prędkość obrotowa | 50 do 600 obr/min |
| Regulacja obrotów | płynna |
| Zasilanie | 230V/50Hz |
| Moc | ok. 800 W |
| Waga | ok. 60 kg |
| Wymiary (szer/gł/wys) | 1170/500/350 mm |
| Doprowadzenie wody | 3/4″ |
| Odpływ wody | 3/4″ |
Szlifierki do próbek spektralnych HK-200 i HK-350
Oferujemy szlifierki do próbek spektralnych używanych później do analizy za pomocą spektrometrów iskrowych. Szlifowanie odbywa się na sucho na papierach ściernych.
Szlifierka spektralna HK-200 to urządzenie stołowe. Posiada talerz o średnicy 200mm. Możliwość podłączenia zewnętrznego odpylania.
Szlifierka spektralna HK-350 posiada osobną szafkę, w której mieści się układ odpylający. Stosuje się papiery ścierne o średnicy 350mm.
Uchwyty do szlifowania próbek
W sytuacji, gdy wysokość próbki wynosi np. 30-40mm nie ma problemu z jej ręcznym szlifowaniem. Jednak, gdy ma ona 4-5mm wysokości i ze względów bezpieczeństwa szlifowanie takiej próbki trzymając ją w ręce jest niemożliwe, wtedy z pomocą przychodzą specjalne uchwyty do ręcznego szlifowania próbek:
Uchwyty magnetyczne umożliwiają szlifowanie próbek metalicznych (np. stalowych) o własnościach magnetycznych. Można dobrać uchwyt do próbek okrągłych lub kwadratowych.
Do szlifowania próbek niemagnetycznych (np. aluminium, miedzi itp.) stosuje się uchwyty mechaniczne, gdzie próbka mocowana jest za pomocą specjalnego „zęba” dociskanego śrubą.
Szlifierka wahadłowa do żeliwa HK-150.1
Do próbek twardych materiałów np. żeliwa stosuje się szlifierki z kamieniem ściernym tzw. ściernicą donicową.
Posuw pionowy ściernicy odbywa się za pomocą koła, widocznego na zdjęciu obok, z podziałką umożliwiającą posuw z dokładnością 0,1mm.
Miejsce pracy oświetla lampa halogenowa. Szlifierka może być wyposażona w stolik magnetyczny do mocowania próbki lub w jarzma mechaniczne.
Półautomatyczna frezarka do próbek metali nieżelaznych
HK-81F
Próbki metali nieżelaznych frezuje się za pomocą specjalnej frezarki np. HK-81F. Próbka mocowana jest w trójszczękowym jarzmie, a następnie automatycznie przesuwana pod obracającą się głowicą frezującą. Położenie głowicy w pionie reguluje się za pomocą śruby mikrometrycznej u góry urządzenia. Śruba wyskalowana jest co 0,05mm, co umożliwia bardzo precyzyjną regulację skoku głowicy i kontrolę nad grubością zdejmowanej warstwy materiału. Regulowana jest prędkość posuwu próbki oraz prędkość skrawania. Całość zapewnia powtarzalną, doskonale przygotowaną powierzchnię analityczną.
Ręczna prasa hydrauliczna PR-25Rv2
Przygotowanie pastylek do analizy XRF wymaga użycia prasy hydraulicznej o odpowiednim nacisku oraz matrycy o wymiarach dobranych do wymiarów kasety spektrometru XRF. Trwałe pastylki mogą być przygotowywane z luźnego proszku, przy użyciu miseczki aluminiowej lub lepiszcza.
Oferujemy prasy ręczne własnej produkcji:
PR-25R – o nacisku 25 ton
Do pras posiadamy pełne wyposażenie dodatkowe jak np. matryce, miseczki aluminiowe, lepiszcza, folie itp.
Typowe wymiary pastylek do analizy XRF to 32 i 40 mm. Na zamówienie wykonujemy matryce o wymiarach od 6mm do 55mm.
Stapiarki gazowe i elektryczne
Nie każdy materiał może być przeanalizowany jako próbka prasowana. Czasem wymaga on przetopienia wraz ze specjalnym topnikiem w postać perły. Do tego służą urządzenia tzw. stapiarki. Drobno zmielony materiał próbki umieszcza się w tyglu platynowym ze stopu Pt/Au 95/5 lub PtIr 98/3 wraz z topnikiem i stapia w jednorodną mieszaninę, a następnie odlewa się ją do platynowej kokili. Tak otrzymaną perłę przenosi się do spektrometru XRF w celu wykonania analizy jej składu chemicznego.
Topniki to najczęściej czteroboran litu (Li₂B₄O₇) lub mieszanka czteroboranu litu i metaboranu litu (LiBO₂). Do topienia można stosować również liczne dodatki np. środki antyadhezyjne (jodek amonu) zmniejszające napięcie powierzchniowe pomiędzy topioną próbką a tyglem platynowym, czy utleniacze, zapewniające całkowite utlenienie związków zawartych w topionym materiale, które mogłyby być niebezpieczne dla platyny.
